קנה Texas Instruments SN74LVTH18646APM IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

התמונה עשויה להיות ייצוג.
ראה מפרטים לפרטי מוצר.

הצג מידע נוסף DataSheets

SN74LVTH18646APM

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP

מספר חלק

SN74LVTH18646APM

יצרן/מותג

Texas Instruments

סִדרָה

74LVTH

סטטוס חלק

Active

אריזה

Tray

טמפרטורת פעולה

-40°C ~ 85°C

סוג הרכבה

Surface Mount

חבילה / מארז

64-LQFP

חבילת מכשירי ספק

64-LQFP (10x10)

מתח אספקה

2.7 V ~ 3.6 V

מספר ביטים

סוג לוגיקה

ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers

בקש הצעת מחיר

אנא מלא את כל השדות הנדרשים ולחץ על שלח, אנו ניצור איתך קשר תוך 12 שעות בדוא"ל. אם יש לך בעיה כלשהי, אנא השאר הודעות או דוא"ל אל [email protected], אנו נגיב בהקדם האפשרי.

במלאי 3631 PCS

פרטי התקשרות

מוצרים קשורים

SN7400D

IC GATE NAND 4CH 2-INP 14-SOIC