קנה Texas Instruments SN74BCT8374ADW IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

התמונה עשויה להיות ייצוג.
ראה מפרטים לפרטי מוצר.

הצג מידע נוסף DataSheets

SN74BCT8374ADW

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

מספר חלק

SN74BCT8374ADW

יצרן/מותג

Texas Instruments

סִדרָה

74BCT

סטטוס חלק

Active

אריזה

Tube

טמפרטורת פעולה

0°C ~ 70°C

סוג הרכבה

Surface Mount

חבילה / מארז

24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

חבילת מכשירי ספק

24-SOIC

מתח אספקה

4.5 V ~ 5.5 V

מספר ביטים

סוג לוגיקה

Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops

בקש הצעת מחיר

אנא מלא את כל השדות הנדרשים ולחץ על שלח, אנו ניצור איתך קשר תוך 12 שעות בדוא"ל. אם יש לך בעיה כלשהי, אנא השאר הודעות או דוא"ל אל [email protected], אנו נגיב בהקדם האפשרי.

במלאי 889 PCS

פרטי התקשרות

מוצרים קשורים

SN7400D

IC GATE NAND 4CH 2-INP 14-SOIC