קנה Texas Instruments SN74ABT8245DWR IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC

התמונה עשויה להיות ייצוג.
ראה מפרטים לפרטי מוצר.

הצג מידע נוסף DataSheets

SN74ABT8245DWR

IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC

מספר חלק

SN74ABT8245DWR

יצרן/מותג

Texas Instruments

סִדרָה

74ABT

סטטוס חלק

Active

אריזה

Tape & Reel (TR)

טמפרטורת פעולה

-40°C ~ 85°C

סוג הרכבה

Surface Mount

חבילה / מארז

24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)

חבילת מכשירי ספק

24-SOIC

מתח אספקה

4.5 V ~ 5.5 V

מספר ביטים

סוג לוגיקה

Scan Test Device with Bus Transceivers

בקש הצעת מחיר

אנא מלא את כל השדות הנדרשים ולחץ על שלח, אנו ניצור איתך קשר תוך 12 שעות בדוא"ל. אם יש לך בעיה כלשהי, אנא השאר הודעות או דוא"ל אל [email protected], אנו נגיב בהקדם האפשרי.

במלאי 2704 PCS

פרטי התקשרות

מוצרים קשורים

SN7400D

IC GATE NAND 4CH 2-INP 14-SOIC